雷達物位計是通過發(fā)射電磁波并接收反射波來測量物位。
HFRL-I-A-G-15雷達物位計操作流程 漢開
1、雷達物位計的測量原理
能量很低的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)出,經(jīng)被測介質(zhì)表面反射后,再被天線接收,經(jīng)歷的時間通過電子部件處理得出介質(zhì)與之間的距離,送DCS控制系統(tǒng)進行顯示、報警。微波從被發(fā)射-反射-接受的時間與到介質(zhì)表面的距離成正比,關系為:D=CT/2。公式中:微波的傳輸速度C為常數(shù),測出雷達物位計記錄微波經(jīng)歷的時間T,可得出液面到雷達天線的距離D??展薏鄣母叨菶減去雷達天線測距離D就可以得出實際液位的高度。如圖1所示:L=E-D。公式中:L表示槽罐實際液位;E表示槽罐自身高度;D表示雷達測量距離。
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2、雷達物位計的特點
①測量高度可以靈活更改,適宜多種不同高度槽罐測量
例如WWDLD80系列測量范圍在100m-70m內(nèi)可以任意設置。測量范圍與雷達物位計的選型即天線有關。
②應用場合比較廣,可連續(xù)準確地測量
高頻雷達物位計作為非接觸式液位測量儀器,采用一體化設計,主要有金屬外殼、電子部件、天線系統(tǒng)組成,使用中不存在機械磨損。天線等關鍵部件采用高質(zhì)量的材料,抗腐蝕能力強。雷達物位計采用的是發(fā)射、接收電磁波,在氧化鋁生產(chǎn)應用中,WWDLD80系列高頻雷達物位計發(fā)射出的微波脈沖無論各種被測介質(zhì)都能夠反射,并且雷達物位計有棒式、多種喇叭式、纜式能夠應用在更復雜的工礦條件,不受高溫、泡沫、粉塵、蒸汽等的影響。故雷達物位計在惡劣條件下功效顯著,無論是有毒介質(zhì),還是腐蝕性介質(zhì),也無論是液體還是漿狀、固體介質(zhì),它都可以連續(xù)準確地測量。
③安裝、維護方便,操作簡單
雷達物位計質(zhì)量輕,通過螺紋或法蘭連接安裝在槽罐的上面,可采用二線制的24VDC供電,功耗低、用電安全,一名維護人員就可操作、維護,并且能通過表頭顯示報警故障。根據(jù)模塊提示的錯誤代碼,維護人員能及時分析故障,予以排除,或者為降低成本也可以尋找?guī)讉€壞的雷達物位計,將里面的電子部件重新拼湊組裝。參數(shù)設定方便,如WWDLD80系列雷達物位計可通過顯示模塊調(diào)試設定,也可用的手操器或裝有WARE軟件和文件的計算機進行設定。
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**HFRL-I-A-G-15雷達物位計操作流程詳解**
HFRL-I-A-G-15雷達物位計是一款高性能的物位測量設備,廣泛應用于石油、化工、電力等行業(yè)。以下是該設備的標準操作流程,確保用戶能夠快速、準確地進行物位測量。
**一、設備啟動**
1. 檢查設備電源是否正常連接。
2. 打開設備電源開關,啟動雷達物位計。
3. 確認設備顯示屏亮起,進入操作界面。
**二、參數(shù)設置**
1. 進入?yún)?shù)設置菜單,根據(jù)實際需求調(diào)整測量頻率、距離范圍等參數(shù)。
2. 設置好參數(shù)后,保存并退出設置菜單。
**三、物位測量**
1. 確保待測介質(zhì)表面平整,無遮擋物。
2. 將雷達物位計對準待測介質(zhì)表面,保持設備穩(wěn)定。
3. 觀察顯示屏上的物位數(shù)據(jù)顯示,讀取當前物位值。
**四、數(shù)據(jù)記錄與查看**
1. 進入數(shù)據(jù)記錄菜單,選擇記錄周期和存儲方式。
2. 開始記錄數(shù)據(jù),設備將自動保存測量結果。
3. 需要查看歷史數(shù)據(jù)時,進入數(shù)據(jù)查看菜單,選擇對應的時間段和存儲設備。
**五、設備維護**
1. 定期檢查設備外觀,確保無損壞。
2. 清潔設備表面,防止灰塵和污垢影響測量精度。
3. 定期檢查設備內(nèi)部,確保電路連接良好。
HFRL-I-A-G-15雷達物位計的操作流程簡單明了,用戶可根據(jù)以上步驟輕松上手,實現(xiàn)高效的物位測量。
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